XRF-2020鍍層測(cè)厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測(cè)量，一般常采用無(wú)損檢測(cè)方法。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測(cè)量誤差，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對(duì)其進(jìn)行不確定度分析。
鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。測(cè)量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀主要是用作檢測(cè)工件上的涂層后者鍍層的厚度的一款儀器，這類測(cè)厚儀有很多種，主要是用作金屬上涂層或者鍍層厚度檢測(cè)的。 涂層厚度檢測(cè)儀器就測(cè)量原理上分為磁性測(cè)厚儀和非磁性測(cè)厚儀。鍍層測(cè)厚儀機(jī)型分類 一般可分為分體機(jī)和一體機(jī)，分體機(jī)即探頭與主機(jī)有一條探頭線聯(lián)接，一體機(jī)探頭為內(nèi)置式。
磁性鍍層測(cè)厚儀主要是通過磁性測(cè)厚法檢測(cè)涂鍍層厚度的，超聲波測(cè)厚儀使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。 渦流層層測(cè)厚儀可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等涂層的厚度。
