X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片專業(yè)用于測(cè)厚儀在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)，這樣使用使得測(cè)厚儀所測(cè)的誤差值變小，對(duì)于半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)，電鍍行業(yè)使用測(cè)厚儀所造成的成本檢測(cè)起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。
X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片的使用和選擇：
厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。
可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片在使用時(shí)選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)厚度塊對(duì)儀器進(jìn)行示值校正，選擇一塊合適和一塊為儀器測(cè)量上限1/2的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊作儀器高低兩端的示值校正。測(cè)量范圍分為若干檔的儀器，其示值校正應(yīng)在每檔分別進(jìn)行。
X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
